IC电性能综合测试仪

型号：Smart-1 Auto Curve Tracer

品牌：Morga test

公司信念——Globalization 、Innovation、Flexibility、Technology

Morga是由一群在半导体领域拥有30多年经验之专业团队所创立。主要从事光电及半导体检测设备之研发与销售，公司产品取得多项设计专利。以创新的技术提供顾客更高的满意度及附加价值；并为员工及股东创造双赢良好环境及善尽企业社会责任；还有致力成为世界级的企业是公司持续努力的目标。

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产品功能

1.机台功能：

IC 之断/短路测试
自动I / V 曲线量测与比对分析
IC Power Pin Bias or IC Power Pin不加电压之漏电流量测
IC 静态 or standby 时之 Idd电流量测
功能预处理（用于测量 VOH 和 VOL 等基本参数）
Low Resistance measuring by 4 wire kelvin test method
可以满足客户在 IC零件之Open/Short量产测试 & DC Fail 上之失效分析需求!

2.测试通道：(标准)64 Test channels , max.可扩充至 8192 channels

可满足客户在high pin count IC 零件上之测试及分析需求!

3.SMU(Source Measure Unit)： (标准配备)具有3组SMU, max.可扩充至5组SMU。

可以提供电流源 or 电压源, 亦即: 送电流 / 量电压 or 送电压 / 量电流。
可以量测 IC在Bias状态下之Powered Curve Tracer & Powered Leakage Test !

4.SMU 之 I / V Measuring SPEC. 电流/电压量测范围：

5.可外加搭配 Keithley 2400/2600 Source Meter for High Voltage or Low Current量测, 以满足多元化 IC 产品之量测分析需求! ( OPTION )

6.Smart-1 System Configuration: Switching Matrix 标准配备为 4 x N Matrix Relay Switch ,最多可扩充至 7 x N Matrix Relay.

7.Universal DUT Board design : 方便user 操作使用, 节省 set-up 时间亦可配合客户需求设计制作客制化之 DUT Board。

8.量测方法&步骤：可选择Pin to All , All to Pin , Pin to Pin , Pin to Pins, Pins to Pin, Pins to Pins ,Pins to All, All to Pins 之量测方式 , 以满足多元化产品之测试需求!

9.每个测试步骤的 force_delay_measure 之设定时间：最快0.3ms , 最慢3000ms 。

10.Open/Short快检模式：具有All to Pin , Pin to All之快检测试模式, 可快速筛出有Open/Short 之Pin脚, 并可分出不同的Power /GND group , 以节省量测分析时间。

11.Open/Short Test具有Autoset(Auto Learning)功能 : 可自动分类哪些 IC PIN脚是 NC Pin, PASS Pin, Low Pin, Short Pin, Power Pin, GND Pin.以便建立正确的Test Program。

12. 检视 Open/Short 之测试结果, 可选择 IC之 Pin Index or Ball No. or Function Name， 方便 user 解读！

13. 量产测试模式:机台可搭配自动化之Handler做大量之生产测试 or 敲Keyboard 之空格键进行手动模式之量产测试。

Open/Short 之Production Test Report: 量产测试报告格式 ( 可加入 Report Title )

14.I-V Curve量测方式: 可选择手动(2 Probe) Pin to Pin之量测方式, 快速找出Fail Pin , or 计算机设定好程序后自动量测每一Pin脚之I/ V Curve,以节省分析时间, 非常具有弹性与便利!

15.Auto I / V Curve Tracing Function : can Automatic Scan & Plot each pin I / V curve .

16.I / V Curve 比对功能: 可以量取一Known-Good-Device 之I / V Curve, 然后与未知之待测Sample 做比对, 可快速筛出有问题之sample, 非常便利! 而且可将量到的 I / V Curve 储存下来, 留待下次分析同一款产品时, 将档案开启, 并继续做迭图分析比对。