X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统， 用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。 The X-Strata920 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定 （如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。
日立的企业宣言“Inspire the Next”代表着日立为社会奉献，为新时代注入新活力的决心，以成为“最好的解决方案合作商”为目标，为实现富有而便利的生活做出自己的贡献。日立以集团愿景为行动方针，融合投入事业的极大热情与专业能力，力争在激烈的竞争环境中脱颖而出。
成本低、快速、非破坏的 EDXRF 分析
可完成至多 4 层镀层（另加底材）和 15 个元素的镀层厚度测试，自动修正 X 射线重叠谱线
卓越的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数 22 号）到铀（92 号）各元素
测厚行业 20 年知识和经验的积淀
使用广受推崇的能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920 可 实现如下测试要求：
符合 ISO3497 标准测试方法：金属镀层——X 射线光谱法测量镀层厚度
符合 ASTM B568 标准测试方法：X 射线光谱仪测量镀层厚度，包括 金属和部分非金属镀层
至多同时分析 25 种元素
开槽式样品仓结合电机驱动样品台，可测量各种尺寸样品，包括小元 件和大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路 板。所有样品可 以很方便地 用程控 XY 平台放置并快速定位到样品上的各个待测点进 行分析。
经过简单易学的指导，用户即可通过编程完成自动测量，实现最大的 样品测试量和无人操作的测试。
使用鼠标控制，可以方便地放置被测样品/零件，并且精确定位到测 试点。
样品放置方便
Z 轴自动控制（Z 向行程：43mm/1.7”）
样品定位方便
样品台尺寸：56mm (22") 深 x 61mm (24") 宽
XY 向行程：178mm (7") x 178mm (7")
最大样品高度 33mm (1.3”)
